Главная страница
Навигация по странице:

  • λ

  • Δ Wg

  • -34

  • ширина запрещенной зоны. Отчет защищен с оценкой преподаватель


    НазваниеОтчет защищен с оценкой преподаватель
    Анкорширина запрещенной зоны.doc
    Дата02.05.2017
    Размер171 Kb.
    Формат файлаdoc
    Имя файлаширина запрещенной зоны.doc
    ТипОтчет
    #1503

    Министерство образования Российской Федерации

    СПБГУАП

    КАФЕДРА № 24

    ОТЧЕТ
    ЗАЩИЩЕН С ОЦЕНКОЙ

    ПРЕПОДАВАТЕЛЬ
















    должность, уч. степень, звание




    подпись, дата




    инициалы, фамилия




    ОТЧЕТ О ЛАБОРАТОРНОЙ РАБОТЕ

    «ШИРИНА ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ»

    по курсу: «Электронника.»

    Э.24.2201.001.ЛР





    РАБОТУ ВЫПОЛНИЛ(А)

    СТУДЕНТ ГР.

























    подпись, дата




    инициалы, фамилия


    Санкт-Петербург 2011

    1)Цель работы: определение ширины запрещенной зоны селенида цинка(ZnSe) и фосфида галлия(GaP) путем излучения спектра их оптической прозрачности 640-400 нм.

    2)Лабораторная установка представляет собой спектрофотометр СФ-26 с установленными в нем пластинами исследуемых кристаллов.

    Принцип работы прибора следующий: свет от источника (лампы накаливания) превращается в параллельный пучок и подается на диспергирующую призму, где разлагается в спектр. Требуемый участок спектра вырезается с помощью щели. Ширина щели может изменяться в пределах от 0.01 до 20 мм(1) и контролируется по шкале щель(2). Поток лучей вырезанного участка спектра попадает на фотоприемник, выходное напряжение которого регистрируется стрелочным прибором(3). Относительная интенсивность T светового потока отсчитывается по верхней шкале стрелочного прибора. Длина волны спектральной составляющей изменяется путем поворота диспергирующей призмы (4) и контролируется по шкале длина волны(5). Если на пути светового потока поместить исследуемый образец, то стрелочный прибор зарегистрирует только ту часть потока, которая пройдет через образец.


    Принцип работы размещаются в светонепроницаемом отсеке спектрофотометра (кювете) между оптической системой и фотоприемником, закрепляются на специальной каретке и могут перемещаться в направлении перпендикулярном световому потоку с помощью выдвижного штока, на который насажена ручка(6). При полностью выдвинутом штоке на пути светового потока оказывается образец ZnSe, при полностью выведенном – образец GaP.
    3) Результаты измерений и расчетов:

    Таблица 3.1

    Длины волны нм

    Результаты измерений

    Результаты расчетов

    T0,%

    T1,%

    T2,%

    K=100%/T0

    T1’=T1*K

    T2’=T2*K

    640

    6.5

    1

    21.5

    15.4

    15.4

    331.1

    620

    19

    4.5

    36

    5.26

    1.17

    189.4

    600

    36

    9

    58

    2/8

    25/2

    162/4

    580

    71

    19

    93

    1.4

    26.6

    130.2

    560

    98.5

    25.5

    60.5

    1.02

    26.01

    61.7

    540

    95

    28.5

    0

    1.15

    32.8

    0

    520

    87

    18/5

    0

    1.15

    11.5

    0

    500

    74

    8.5

    0

    13.5

    0

    0

    480

    56.5

    0

    0

    1.78

    0

    0

    460

    37.5

    0

    0

    2.7

    0

    0

    440

    22

    0

    0

    4.55

    0

    0

    420

    10

    0

    0

    10

    0

    0

    400

    1.5

    0

    0

    6.7

    0

    0




    λ1=486 нм (ZnSe)

    λ2= 556 нм (GaP)


    4)Расчет ширины запрещенной зоны ΔW:

    ΔW=(hc)\ λгр

    а) ΔWg1=(6.67*10-34*3*108)\(486*10-9)=0.4*10-18Дж=2.5 эВ

    б) ΔWg2=(6.67*10-34*3*108)\(556*10-9)=0.36*10-18Дж=2.25 эВ
    5)Вывод: в данной лабораторной работе мы определили ширину запрещенной зоны ZnSe и GaP, из полученных результатов можно сказать что ширина запрещенной зоны ZnSe меньше ширины запрещенной зоны GaP, т.к. электроны ZnSe поглащают меньше квантов света чтобы попасть из валентной зоны в зону проводимости.
    написать администратору сайта